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DUALSCOPE DMP20/40：可測量非磁性金屬基材上的非導(dǎo)電層以及磁性基材上的非磁性層。結(jié)合了振幅敏感渦流法和磁感應(yīng)法，功能更為全面。例如在電子電器產(chǎn)品的生產(chǎn)中，對于金屬外殼既有塑料涂層又有金屬鍍層的復(fù)雜結(jié)構(gòu)，能準(zhǔn)確測量不同涂層的厚度。該系列中 DMP30/40 型號具有擴(kuò)展功能，如藍(lán)牙接口，且掃描模式下當(dāng)探頭在表面移動(dòng)時(shí)，可按定義的時(shí)間間隔和測量次數(shù)自動(dòng)記錄測量讀數(shù)，大大提高了檢測效率。

當(dāng)測厚儀的探頭與磁性金屬基材接觸時(shí)，探頭中的線圈會(huì)產(chǎn)生磁場。若基材上有非磁性涂層，涂層厚度的變化會(huì)導(dǎo)致磁場強(qiáng)度發(fā)生改變，儀器通過檢測這種磁場變化來計(jì)算涂層厚度。此方法適用于測量磁性基材（如鋼鐵）上的非磁性涂層，如鋼鐵表面的油漆、塑料涂層以及鋅、鉻等金屬鍍層的厚度測量。