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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測(cè)厚儀fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測(cè)厚儀 有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開(kāi)防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。
更新時(shí)間：2024-11-18 訪問(wèn)次數(shù)：4675 -
FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。
更新時(shí)間：2024-11-18 訪問(wèn)次數(shù)：2205 -
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀helmut-fischer xan500X射線熒光鍍層測(cè)厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。
更新時(shí)間：2024-11-18 訪問(wèn)次數(shù)：2394 -
德國(guó)菲希爾鍍層測(cè)厚儀xdv-μ-pcb德國(guó)菲希爾鍍層測(cè)厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)星和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達(dá)10至60μm。
更新時(shí)間：2024-11-18 訪問(wèn)次數(shù)：2965 -
費(fèi)希爾X射線測(cè)厚儀 XDL230菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高性能的能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測(cè)厚及材料分析儀，專為工業(yè)質(zhì)量控制、材料成分分析和溶液檢測(cè)設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間：2025-08-05 訪問(wèn)次數(shù)：3069 -
菲希爾XUL220 X射線鍍層測(cè)厚儀菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XUL220，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER臺(tái)式測(cè)厚儀，菲希爾金屬鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER。菲希爾XUL220 X射線鍍層測(cè)厚儀
更新時(shí)間：2025-05-23 訪問(wèn)次數(shù)：3091 -
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更新時(shí)間：2025-01-17 訪問(wèn)次數(shù)：2116 -
菲希爾、X射線測(cè)厚儀XDL230FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德國(guó) Helmut Fischer 公司生產(chǎn)的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，專為自動(dòng)化和高精度測(cè)量設(shè)計(jì)，適用于各類鍍層厚度測(cè)量和材料成分分析。
更新時(shí)間：2025-11-25 訪問(wèn)次數(shù)：2748 -
菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer
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更新時(shí)間：2025-01-17 訪問(wèn)次數(shù)：2309 -
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更新時(shí)間：2025-05-15 訪問(wèn)次數(shù)：2178 -
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL210
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更新時(shí)間：2025-01-16 訪問(wèn)次數(shù)：2793 -
菲希爾X射線測(cè)厚儀
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更新時(shí)間：2025-01-02 訪問(wèn)次數(shù)：3117 -
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER XULM240
菲希爾 XULM240 是一款緊湊、高精度、多功能的 X 射線熒光 (XRF) 鍍層測(cè)厚與材料分析儀器，專為微小零件和精細(xì)結(jié)構(gòu)的無(wú)損檢測(cè)設(shè)計(jì)，廣泛應(yīng)用于電子、電鍍、汽車等行業(yè)的質(zhì)量控制與生產(chǎn)監(jiān)控。
更新時(shí)間：2026-01-21 訪問(wèn)次數(shù)：2176 -
菲希爾測(cè)厚儀FISCHER X射線 XDAL237
菲希爾測(cè)厚儀FISCHER X射線 XDAL237，菲希爾FISCHER測(cè)厚儀，fischer便攜式測(cè)厚儀
更新時(shí)間：2026-01-21 訪問(wèn)次數(shù)：1982 -
菲希爾XULM240 FISCHER代理菲希爾XULM240 FISCHER代理，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER
更新時(shí)間：2026-01-06 訪問(wèn)次數(shù)：7922 -
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230 FISCHER代理
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230 FISCHER代理，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德國(guó)菲希爾 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測(cè)厚及材料分析系統(tǒng)，專為工業(yè)質(zhì)量控制、來(lái)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控設(shè)計(jì)，采用從上往下的測(cè)量方向，便于分析形狀不規(guī)則的樣品。
更新時(shí)間：2026-01-21 訪問(wèn)次數(shù)：3041 -
菲希爾FISCHER X射線測(cè)厚儀
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更新時(shí)間：2025-05-23 訪問(wèn)次數(shù)：2016 -
菲希爾FISCHER X射線XULM240
菲希爾FISCHER X射線XULM240，基于 X 射線熒光光譜技術(shù)，X 射線激發(fā)樣品鍍層產(chǎn)生特征熒光，通過(guò)檢測(cè)熒光強(qiáng)度結(jié)合基本參數(shù)法（FP 法） 計(jì)算鍍層厚度 / 元素成分；全程無(wú)損、無(wú)需破壞樣品。主打微聚焦測(cè)量，特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結(jié)構(gòu)的檢測(cè)。
更新時(shí)間：2026-02-05 訪問(wèn)次數(shù)：1957 -
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾X射線測(cè)厚儀,Fischer測(cè)厚儀，菲希爾便攜式鍍層測(cè)厚儀，菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀
更新時(shí)間：2026-02-09 訪問(wèn)次數(shù)：2452 -
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230
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更新時(shí)間：2025-01-16 訪問(wèn)次數(shù)：2599
