菲希爾XULM240 FISCHER代理的詳細資料：

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心技術(shù)與工作原理

測量原理：X 射線熒光法 (XRF)，通過 X 射線激發(fā)樣品表面鍍層，分析熒光信號強度反推鍍層厚度與元素成分，實現(xiàn)非破壞性檢測

關(guān)鍵組件：

可選：帶玻璃窗口或鈹窗口的鎢靶微聚焦 X 射線管（ 50kV/50W）

比例計數(shù)器探測器（高計數(shù)率，提升測量速度與精度）

4 個自動切換準(zhǔn)直器（0.05×0.05mm 至 ?0.3mm）+ 3 個自動切換基本濾片

內(nèi)置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡（38x-184x 變焦），定位精度達微米級

菲希爾X射線測厚儀關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

參數(shù)類別規(guī)格詳情

測量范圍鍍層厚度：0.005-50μm（納米級精度）

測量精度Au>0.1μm 時：標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn) <±5%，無標(biāo)樣 <±10%；80nm 金鍍層重復(fù)精度達 2.5nm

測量點尺寸最小 0.05×0.05mm（微聚焦管），適配微小零件與精細結(jié)構(gòu)

樣品高度17cm，測量距離 0-27.5mm 可調(diào)

工作臺配置固定支撐臺 / 手動 XY 工作臺，可選電動 XY 自動定位

軟件系統(tǒng)WinFTM® 專業(yè)分析軟件，支持?jǐn)?shù)據(jù)實時傳輸、報告生成與導(dǎo)出

設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)符合 DIN ISO 3497 與 ASTM B 568 國際標(biāo)準(zhǔn)