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菲希爾X射線測厚儀XDL230關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
1. X 射線源與探測器
X 射線管:帶鈹窗口的鎢靶 X 射線管,可選微聚焦型
高壓調(diào)節(jié):30kV、40kV、50kV 三檔可調(diào),功率 50W
探測器:比例接收器 (Proportional Counter Tube),確保高計數(shù)率與快速測量
準(zhǔn)直器:標(biāo)準(zhǔn) φ0.3mm,可選 φ0.1mm、φ0.2mm、0.3×0.05mm 矩形
最小測量光斑:約 0.2mm (使用 φ0.1mm 準(zhǔn)直器時)
濾光片:固定或 3 個自動切換選項
2. 測量能力
元素范圍:氯 (Cl, 17) 至鈾 (U, 92)
同時測量元素數(shù):最多 24 種 (需 WinFTM® BASIC 軟件)
鍍層測量標(biāo)準(zhǔn):符合 ISO 3497 與 ASTM B 568
測量方法:FISCHER 基本參數(shù)法 (FP),支持無標(biāo)樣測量
穩(wěn)定性:長期穩(wěn)定性優(yōu)異,減少校準(zhǔn)頻率
FISCHER代理核心功能特點
無損檢測:非接觸、無損傷測量,保護(hù)樣品原貌
DCM 技術(shù):測量距離補(bǔ)償方法,可在 0-80mm 范圍內(nèi)自由選擇測量距離,適配復(fù)雜形狀樣品與腔體內(nèi)部測量
精準(zhǔn)定位:高分辨率彩色 CCD 攝像頭 (40-160 倍放大)+ 激光定位輔助,快速精確對準(zhǔn)測量點
智能分析:內(nèi)置基本參數(shù)法,無需標(biāo)準(zhǔn)片即可分析鍍層系統(tǒng)、固體與液體樣品
多模式測量:支持鍍層厚度測量、材料成分分析、電鍍槽液分析 (需配套附件)
靈活樣品適應(yīng):可測量平面、曲面、復(fù)雜形狀樣品,適用于各種尺寸工件

