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菲希爾測厚儀X射線XAN215信息
點擊次數(shù)：167 更新時間：2026-01-04
菲希爾 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 是一款入門級經(jīng)濟型 X 射線熒光測厚儀，專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損成分分析與鍍層厚度測量設計，具備高性價比、操作簡便、精度可靠的特點，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標準
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN215核心功能與測量能力
1. 分析能力
成分分析：可分析金、銀、鉑、鈀、銠等貴金屬及其合金，包括黃 / 白金、K 金等
鍍層測厚：適用于單層 / 多層鍍層系統(tǒng)，如金鍍層、銠鍍層等厚度測量
基礎參數(shù)法：無需校準即可分析固體、液體樣品及鍍層系統(tǒng)，提高測量靈活性
2. 操作與軟件系統(tǒng)
控制軟件：標配 WinFTM® BASIC 軟件，可選 WinFTM® SUPER 高級版
數(shù)據(jù)處理：PC 端操作，支持數(shù)據(jù)管理、報告生成、結果可視化
用戶交互：直觀界面，簡化測量流程，減少培訓成本
